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不同物體的反射率不同，這主要取決于樣品物質(zhì)本身的特性(如材質(zhì)成分、表面粗糙度等）、入射光的波長和入射角度等，所以我們能通過反射光譜信息獲取樣品的成分組成等信息。反射包括鏡面反射和漫反射兩種類型。反射率是光到達(dá)樣品表面后反射部分的能量相對于原始參考光譜的百分比，反射測量與透射測量方法基本是一致，可以用如下公式表達(dá)：

1. 反射測量儀器搭建方案

整套儀器由微型光纖光譜儀（含軟件）、光源、透反射樣品支架、反射探頭和標(biāo)準(zhǔn)反射白板組成，如下圖示意：

具體配置清單：

2. 儀器介紹

2.1 微型光纖光譜儀

a) RGB-ER-CL微型光譜儀采用交叉非對稱C-T光路結(jié)構(gòu)，配置先進(jìn)的CMOS探測器，是一款結(jié)構(gòu)緊湊、攜帶方便的通用型微型光纖光譜儀，適用于科研及工業(yè)生產(chǎn)的光譜測量應(yīng)用，具有高靈敏度、高分辨率、高量子效率和高動(dòng)態(tài)范圍的特點(diǎn)。

b) RGB-ER-CL微型光譜儀響應(yīng)范圍為200～1000nm，狹縫為25μm，分辨率為1.5nm。RGB-VIS-NIR-CL的波長范圍為400～1100nm，狹縫為25μm，分辨率為1.0nm。用戶也可以選擇不同的光柵配置，得到不同的光學(xué)分辨率和光譜響應(yīng)范圍，以滿足不同的應(yīng)用需求。另外針對其它波段如200～900nm/200～1000nm/300～1100nm/700～1100nm等可以提供定制。

c) RGB-NIR-CL近紅外光譜儀是一款高性能近紅外光譜儀，可測量波長范圍950 nm～1700 nm，分辨率~10 nm (@ 25 µm狹縫)。

d) 以上所有微型光譜儀均免費(fèi)提供配套光譜測量軟件KewSpec。該軟件包含查看、保存、讀取光譜圖和數(shù)據(jù)，以及積分時(shí)間、Boxcar平滑和信號平均等信號處理等基本功能，還包含光譜測量、吸光度、透過率、反射率等應(yīng)用測量模式。操作界面簡潔明了，易于上手。

2.2 光源

根據(jù)待測樣品的特征波長范圍選擇合適的光源，如HLS-1鹵鎢燈光源、FCLS-LED光纖耦合LED光源等。

HLS-1鹵鎢燈光源波長范圍360~2500nm，可直接出光或也可由SMA905端口連接光纖耦合輸出。輸出光強(qiáng)度可調(diào)，光源前端設(shè)有支架，可根據(jù)需要安裝濾光片或衰減片。

FCLS-LED系列光纖耦合LED光源提供多種單色光和白光（400-700nm）可選，其他波長也可支持定制。該光源可連續(xù)輸出或脈沖輸出，強(qiáng)度與頻率可調(diào)。結(jié)構(gòu)緊湊，性能可靠，輸出光功率非常穩(wěn)定。

2.3 透反射樣品支架

透反射樣品支架是常用的光譜測量附件，與反射探頭聯(lián)用可實(shí)現(xiàn)反射光譜測量，與兩根光纖跳線聯(lián)用可實(shí)現(xiàn)透射光譜測量。ST-RT透反射樣品支架包括可調(diào)滑軌、底座、樣品調(diào)整座以及兩個(gè)CL-UV準(zhǔn)直透鏡。底座設(shè)有積分球的定位孔，可以快速準(zhǔn)確的放置積分球。該產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于硅、金屬、玻璃、塑料、珠寶等樣品的透射和反射光譜測量。

2.4 反射探頭

KEWLAB提供的ZR系列反射探頭具有堅(jiān)實(shí)耐用、穩(wěn)定性高、插入損耗和反射損耗低等特點(diǎn)。ZR系列反射探頭是理想的選擇，采用6包1光纖排布，既可測量鏡面反射，也可測量漫反射。光源的信號光由光纖一端傳導(dǎo)至待測樣品，然后作用光由反射探頭進(jìn)行探測并將其傳輸至光譜儀。根據(jù)待測樣品的實(shí)際特性和檢測應(yīng)用需求，可以選擇不同類型的反射探頭。   

反射探頭覆蓋光譜范圍：190-2200nm；

光纖芯徑可選范圍：200、400、600μm等；

標(biāo)準(zhǔn)長度：0.5m、1m、2m，其它長度支持定制；

外殼包層材料：金屬或塑料。

2.5 反射白板

標(biāo)準(zhǔn)反射白板是用于反射率測量的標(biāo)準(zhǔn)漫反射參考物，適合于測量各種的粗糙樣品的表面反射率。該白板采用高品質(zhì)PTFE材質(zhì)，在200-2500nm寬光譜波段提供90%以上反射率，其中350-1500nm波段反射率≥98%和250-2200nm波段反射率≥95%。